判斷濱松平板探測器圖像質(zhì)量的好壞，通常用調制傳遞函數(MTF)和量子轉換效率(DQE)來(lái)衡量。MTF和DQE值高則表明該平板探測器產(chǎn)生的圖像質(zhì)量能夠達到較好的空間分辨率和密度分辨率。

  影響濱松平板探測器DQE的因素：量子探測效率(DQE)是一種對成像系統信號和噪聲從輸入到輸出的傳輸能力的表達，以百分比表示。DQE反映的是平板探測器的靈敏度、噪聲、X線(xiàn)劑量和密度分辨率。在非晶硅平板探測器中，影響DQE的因素主要有兩個(gè)方面：閃爍體的涂層和將可見(jiàn)光轉換成電信號的晶體管。

  首先閃爍體涂層的材料和工藝影響了X線(xiàn)轉換成可見(jiàn)光的能力，所以對DQE會(huì )產(chǎn)生影響。常見(jiàn)的閃爍體涂層材料有兩種：碘化銫和硫氧化釓。碘化銫將X線(xiàn)轉換成可見(jiàn)光的能力比硫氧化釓強但成本比較高;將碘化銫加工成柱狀結構，可以進(jìn)一步提高捕獲X線(xiàn)的能力，并減少散射光。使用硫氧化釓做涂層的探測器成像速率快，性能穩定，成本較低，但是轉換效率不如碘化銫涂層高。其次將閃爍體產(chǎn)生的可見(jiàn)光轉換成電信號的方式也會(huì )對DQE產(chǎn)生影響。在碘化銫(或者硫氧化釓) 薄膜晶體管(TFT)這種結構的平板探測器中，因為T(mén)FT的陣列可以做成與閃爍體涂層的面積一樣大，所以可見(jiàn)光不需要經(jīng)過(guò)透鏡折射就可以投射到TFT上，中間沒(méi)有光子損失，所以DQE也比較高;在非晶硒平板探測器中，X線(xiàn)轉換成電信號*依賴(lài)于非晶硒層產(chǎn)生的電子空穴對，DQE的高低取決于非晶硒層產(chǎn)生電荷能力?？偟恼f(shuō)來(lái)，CsI TFT這種結構的間接轉換平板探測器的好 DQE高于a-Se直接轉換平板探測器的好 DQE。

  對于同一種濱松平板探測器，在不同的空間分辨率時(shí)，其DQE是變化的;好 的DQE高，不等于在任何空間分辨率時(shí)DQE都高。DQE的計算公式如下：DQE=S2×MFT2/NSP×X×C

  S：信號平均強度;MTF：調制傳遞函數;X：X線(xiàn)曝光強度;NPS：系統噪聲功率譜;C：X線(xiàn)量子系數從計算公式中我們可以看到，在不同的MTF值中對應不同的DQE，也就是說(shuō)在不同的空間分辨率時(shí)有不同的DQE。

  調制傳遞函數對圖像質(zhì)量的影響：

  調制傳遞函數(MTF)是描述系統再現成像物體空間頻率范圍的能力。理想的成像系統要求100%再現成像物體細節，但現實(shí)中肯定存在不同程度的衰減，所以MTF始終<1，它說(shuō)明成像系統不能把輸入的影像全部再現出來(lái)，換句話(huà)說(shuō)，凡是經(jīng)過(guò)成像系統所獲得的圖像都不同程度損失了影像的對比度。MTF值越大，成像系統再現成像物體細節能力越強。系統的MTF是必須要測定的。要評價(jià)數字X線(xiàn)攝影系統的固有成像質(zhì)量，必須計算出不受主觀(guān)影響的、系統所固有的預采樣MTF。